Выступление состоится 23 октября в рамках Практической конференции по вопросам неразрушающего контроля на выставке NDT Russia.
Организаторы конференции: АО НДЦ НПФ «Русская лаборатория» и оргкомитет NDT Russia
Тема: Методы сканирующей зондовой микроскопии совместно с оптической спектроскопией для локального НК состояния поверхностей материалов, химического анализа и поиска возможных структурных дефектов
Докладчик: Трусов Михаил Александрович, директор по научным проектам ООО «Активная фотоника»
Аннотация:
Новые направления в неразрушающем контроле требуют новых методов исследования. Физические науки, как и промышленность, испытывают потребность в создании универсального метода, позволяющего строить изображения поверхностей различных материалов: полимеров, изделий из керамики, металлов, кристаллов и минералов.
Одним из таких методов является атомно-силовая микроскопия (АСМ), которая позволяет строить топографические карты поверхностей различных объектов и исследовать физические и химические свойства целого ряда образцов: пористых материалов, тонких пленок и наноструктур.
Применение АСМ в комбинации со сканирующей туннельной микроскопией, фотолюминесцентной спектроскопией и спектроскопией комбинационного рассеяния предоставляет наиболее полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многие другие.
Предлагаем обсудить реализацию комбинации указанных методов в едином аппаратном комплексе, примеры программной обработки с получением изображения с пространственным разрешением, близким к теоретическому пределу.
Направления потенциального применения: промышленная безопасность, экология, общая физика, физика твердого тела, минералогия, кристаллография, электрохимия, фармацевтика, криминалистика, таможенная экспертиза и др.